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软件生态产品 | YMS良率管理分析系统

我们的产品

YMS(Yield Management System):良率管理分析系统,是一种通过可视化拖拽方式建立分析流程和模型, 多图表展示分析结果的良率分析工具,内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型。

解决的问题

帮助企业管理人员自动监控良率&品质、高效分析良率和异常,为品质改善提供保障;
依托大数据计算平台,使用多种数据分析方程进行数据挖掘和统计分析,通过在线分析方式提高处理和反馈效率,从若干小时到分钟级,帮助用户快速定位问题和决策参考;
通过与MES系统和EAP系统(连接生产设备)的集成,实时管控产品良率;
沉淀产品品质数据和分析模型,帮助企业积累品质管理模型和知识库。

我们的优势

大数据架构—GP:海量数据的存储,查询能力;Spark:海量数据的运算能力(分布式运算,内存中做join);
自助可视化拖拽方式建立分析流程和模型;
内置多个开箱即用的检验、分析、回归等统计分析模型(基于R语言);
提供CP Wafer mapping图和叠图分析,更直观的展示分析结果数据;
基于网页访问,不受客户端平台和用户数量限制;
支持半导体测试标准STDF和CSV等多种文件格式的数据源;
支持与半导体测试机的实时监控分析,支持与MES系统集成。
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